完整收集方块电阻的详细数据
基本介绍中文名:方阻定义:方阻R=ρ/d电阻定义:R=ρ*L/S定义:在长度为L，宽度为W，高度为D单位:ω定义、测试方法、影响精度的因素、适用存在的问题、定义定义:在长度为L，宽度为W，高度为D(即膜厚)，此时L = L .薄层电阻测试仪蒸发铝膜、导电漆膜、印刷电路板铜箔膜等薄膜导电材料，测量它们厚度的最好方法是测试它们的薄层电阻。什么是方块电阻？方块电阻即方块电阻，是指正方形薄膜导电材料从一边到另一边的电阻，如图1所示，即从B边到c边的电阻，方块电阻有一个特点，即任何大小的正方形从一边到另一边的电阻都是一样的，无论边长是1 m还是0.1 m，它们的方块电阻都是一样的，所以方块电阻只与导电膜的厚度等因素有关。测试方法如何测试方块电阻？可以用万用表电阻档直接测试图1所示的材料吗？不能，因为万用表的探头只能测点到点的电阻，这个点到点的电阻并不能说明什么。测试方形电阻，我们首先需要在A面和B面压一根电阻比导电膜小很多的圆铜棒，圆铜棒光洁度要高，以便与导电膜接触良好。这样，我们就可以用万用表测量两根铜条之间的电阻来测量导电膜材料的方块电阻。如果方块电阻比较小，比如几欧姆以下，因为接触电阻和万用表本身的性能，用万用表测试时读数会不稳定，不准确。这时候就需要使用专用的四端低阻测试仪器，比如毫欧表、微欧表等。测试方法如下:在导电膜上压四根光滑的圆铜棒，如图2所示。四根铜条分别用A、B、C、D表示，用导线连接在毫欧计上焊接而成。我们使BC之间的距离L等于导电膜的宽度W。至于AB和CD之间的距离，没有要求，一般是10-20 mm，接好毫欧计后，毫欧计显示的电阻就是材料的方块电阻。这种测试方法的优点是:(1)用这种方法可以测量几百毫欧、几十毫欧甚至更小的方块电阻；(2)由于是四端测试，铜棒与导电膜的接触电阻和铜棒到仪器的引线电阻即使大于被测电阻也不会影响测试精度。(3)测试精度高。由于毫欧计等仪器的精度较高，方块电阻的测量精度主要由膜宽W和导电棒BC间距离L的机械精度决定。由于尺寸大，这种机械精度可以做得更高。在实际操作中，为了提高测试精度，为了测试条形材料，W和L不一定相等，L可以远大于W，这时的方块电阻RS = Rx * W/L，Rx就是毫欧计的读数。这种方法虽然精度高，但比较麻烦，尤其是导电膜材料较大且形状不规则时，需要使用专用的四探针探头来测试材料的方阻，如图3所示。探头由四个探头组成，要求四个探头头部之间的距离相等。四个探针通过四根导线连接到方形电阻测试仪。当探针压在导电膜材料上时，材料的方块电阻可以立即显示出来。具体原理是外端的两个探针产生电流场，内端的两个探针测试电流场在这两个探针点形成的电位。因为方块电阻越大，电位越大，所以可以测出材料的方块电阻。需要指出的是，虽然都是四端测试，但与图2所示的用铜条测方块电阻的方法在原理上是不同的。因为电流场中只有一小部分电流在BC点产生电压(电势)。显示的灵敏度要低很多，比例是1: 4.53。影响精度的因素影响探针法测方块电阻精度的因素:(1)探针边缘到材料边缘的距离要求远大于探针间距，一般要求大于10倍。(2)要求探头间距相等，否则会导致比例测试误差。(3)理论上，探头与导电膜的接触点越小越好。但在实际应用中，由于针电极容易破坏待测的导电薄膜材料，一般采用圆形探头。应用中的问题最后说说实际应用中的问题。1.如果待测导电膜材料表面不干净，有油污或材料暴露在空气中时间过长，形成氧化层，会影响测试稳定性和测试精度。测试中需要注意。2.如果探头的探针上有油污，测试会不稳定。这时候你只要把探头在干净的白纸上滑动，擦拭就可以了。3.如果材料是蒸镀铝薄膜等。并且蒸发的厚度太薄，形成的铝膜不能均匀连成一片，而是形成点状分布。这时候方块电阻值会大大增加，与称重法计算的厚度和方块电阻值不同。所以这时候就要考虑加一个修正系数了。